로그인 ｜ 회원등록 ｜ 비번분실 ｜ 현재접속자
TO
   

회원등록 ｜ 비번분실
기술정보
전체보기
Light Optic
Electron Optic
SPM/AFM
X-RAY 관련
NSOM관련
기타



  business news
Electron Optic 		 
   
FIB-TEM sample preparation by in-situ lift out technique
     
  FIB-TEM sample preparation by in-situ lift out technique.
fib11.pdf(1.4MB)		  
     
     
   

홈으로/HOME Copyrightⓒ1999-2009 HTSKOREA (www.htskore.com) all right reserved
경기도 수원시 영통구 망포동 382-3번지 e-타운Ⅱ빌딩 407호
TEL:031-273-2438(代) / FAX:031-273-2439 / E-Mail: psha@htskorea.com